251 Titles in Klassifikation (DDC) → Naturwissenschaften und Mathematik → Physik 1
jump to filter-options251 Titles in Klassifikation (DDC) → Naturwissenschaften und Mathematik → Physik
1
- All Titles
- Klassifikation (DDC)
- Naturwissenschaften und Mathematik
- Physik
- Physik
- Klassische Mechanik; Festkörpermechanik
- Mechanik der Fluide; Mechanik der Flüssigkeiten
- Gasmechanik
- Schall und verwandte Schwingungen
- Licht, Infrarot- und Ultraviolettphänomene
- Wärme
- Elektrizität, Elektronik
- Magnetismus
- Moderne Physik
3C-Siliziumkarbid auf Sol-Gel-Basis
Entwicklung, Wachstumsmechanismen und Charakter anwendungsorientierter Morphologien des Wide-Bandgap-Halbleiters2007
Ab initio-Berechnung der optischen und phononischen Eigenschaften von Lithiumniobat und verwandten ferroelektrischen Materialien
Elektronische Ressource, Paderborn, 2018Adaptive methods in the mechanics of heterogeneous materials
Elektronische Ressource, Paderborn, 2019Advanced optical analysis of ferroelectric domain structures
towards nonlinear-optical devices in LiNbO3 and KTiOPO4Elektronische Ressource, Paderborn, 2023Application of magnetic multiple resonance techniques to the study of point defects in solids
In: Electronic Magnetic Resonance of the Solid State (CSC symposium series : 1 ), Vol. 1987, page 503-5192009Application of magnetic multiple resonances to study defects in III-V compounds
In: Crystal Latice Defects and Amorphous Materials, Vol. 1989, page 281-2952009Application of magnetic resonance techniques to the study of defects in solids
In: Determination of structural features of crystalline and amorphous solids (Physical methods of chemistry : 5), Vol. 1990, page 433-5162009Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
In: Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986, Vol. 1986, page 299-3042009Application of optically detected magnetic resonance to the characterization of point defects in semiconductors
In: International Conference on Defects in Semiconductors : Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors. (Materials Science Forum 10-12), Vol. 1986, page 505-5142009An applied noise model for scintillation-based CCD detectors in transmission electron microscopy
In: scientific reports, 15, Artikel-ID 3815, Seite 1-37Paderborn : Universitätsbibliothek, 2025