Titelaufnahme

• Titel
  Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
• Autor
  Spaeth, Johann-Martin
• Enthalten in
  Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986, Tokyo, 1986, S. 299-304
• Entstehung
  2009
• Sprache
  Englisch
• Dokumenttyp
  Aufsatz in einem Sammelwerk
• ISBN
  4-274-02113-0
• URN
  urn:nbn:de:hbz:466:2-6282