Titelaufnahme

• Titel
  Application of optically detected magnetic resonance to the characterization of point defects in semiconductors
• Autor
  Spaeth, Johann-Martin
• Enthalten in
  International Conference on Defects in Semiconductors : Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors. (Materials Science Forum 10-12), Paris, 1986, S. 505-514
• Entstehung
  2009
• Sprache
  Englisch
• Dokumenttyp
  Aufsatz in einem Sammelwerk
• ISBN
  0-87849-551-7
• URN
  urn:nbn:de:hbz:466:2-6291