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'All-inclusive' imaging of the rutile TiO2(110) surface using NC-AFM
Bechstein, Ralf
;
González, Cesar
;
Schütte, Jens
;
Jelínek, Pavel
;
Pérez, Ruben
;
Kühnle, Angelika
In: Nanotechnology, Jg. 20 H. 50, S. 505703 ff.
