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Literatur
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: deconvolution of constant current images
Reiss, Günter
;
Schneider, F.
;
Vancea, Johann
;
Hoffmann, Horst
In: Applied physics letters, Jg. 57 H. 9, S. 867-869
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: tip-shape-limited resolution
Reiss, Günter
;
Vancea, Johann
;
Wittmann, H.
;
Zweck, Josef
;
Hoffmann, Horst
In: Journal of applied physics, Jg. 67 H. 3, S. 1156-1159
STM on polycrystalline thin films
Reiss, Günter
In: Vacuum, Jg. 41 H. 4-6, S. 1322-1324
Thickness-dependent thin-film resistivity: application of quantitative scanning-tunneling-microscopy imaging
Reiss, Günter
;
Hastreiter, E.
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
In: Physical review B, Jg. 43 H. 6, S. 5176-5179