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Modification of a commercial atomic force microscopy for low-noise, high-resolution frequency-modulation imaging in liquid environment
Rode, Sebastian
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Stark, R.
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Lübbe, Jannis
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Tröger, Lutz
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Schütte, Jens
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Umeda, K.
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Kobayashi, Kei
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Yamada, Hirofumi
;
Kühnle, Angelika
In: Review of Scientific Instruments, Jg. 82 H. 7