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Literatur
Electronic transport in metallic films: a tool for scanning tunneling microscopy investigations
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Superlattices and Microstructures, Jg. 11 H. 2, S. 171-174
Electronic transport properties and thickness dependence of the giant magnetoresistance in Co/Cu multilayers
Eckl, Th.
;
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Hoffmann, Horst
In: Journal of applied physics, Jg. 75 H. 1, S. 362-367
Electronic transport properties of giant-magnetoresistance Fe/Cr multilayers
Jacob, M.
;
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Hoffmann, Horst
In: Physical Review, B, Jg. 46 H. 17, S. 11208-11211
Growth and structure of polycrystalline Cr/Au multilayered thin films
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Reiss, Günter
;
Hoffmann, Horst
In: Thin solid films, Jg. 250 H. 1-2, S. 56-60
The influence of surface roughness on electronic transport in thin films
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Surface science, Jg. 269-270, S. 772-776
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Hastreiter, E.
In: Journal of applied physics, Jg. 70 H. 1, S. 523-525
Thickness-dependent thin-film resistivity: application of quantitative scanning-tunneling-microscopy imaging
Reiss, Günter
;
Hastreiter, E.
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
In: Physical review B, Jg. 43 H. 6, S. 5176-5179