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Literatur
vom 14.7.2021
The influence of surface roughness on electronic transport in thin films
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Surface science, Jg. 269-270, S. 772-776
In situ scanning-tunneling-microscopy studies of early-stage electromigration in Ag
Levine, L. E.
;
Reiss, Günter
;
Smith, D. A.
In: Physical Review, B, Jg. 48 H. 2, S. 858-863
In situ scanning-tunneling-microscopy studies of current driven mass transport in Ag
Levine, L. E.
;
Reiss, Günter
;
Smith, D. A.
In: Journal of applied physics, Jg. 74 H. 9, S. 5476-5482