de
en
Schliessen
Detailsuche
Bibliotheken
Projekt
Impressum
Datenschutz
zum Inhalt
Detailsuche
Schnellsuche:
OK
Schließen
Dokumenttypen
3
Einträge für
Aufsatz in einer Zeitschrift
Zeiträume
1
Einträge für
2001-2010
2
Einträge für
2011-2020
Autoren / Beteiligte
3
Einträge für
Bechstein, Ralf
3
Einträge für
Kühnle, Angelika
1
Einträge für
Aeschlimann, Simon
1
Einträge für
Floris, Andrea
1
Einträge für
Foster, Adam S
1
Einträge für
Gordon, Andre
1
Einträge für
Haapasilta, Ville
1
Einträge für
Kantorovich, Lev
1
Einträge für
Kittelmann, Markus
1
Einträge für
Kling, Felix
1
Einträge für
Kutz, Antje
1
Einträge für
Langhals, Heinz
1
Einträge für
Paris, Chiara
1
Einträge für
Rahe, Philipp
1
Einträge für
Rahman, Taibur
1
Einträge für
Rohlfing, Michael
1
Einträge für
Schütte, Jens
1
Einträge für
Venturini, Chiara
Zeige 8 weitere
Zeige erste 10
3
Titel
Klassifikation
Schliessen
Filter
2
zu den Filteroptionen
Titel
Personen
Ort
Verlag
Jahr
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Alle Titel
Klassifikation (DDC)
Informatik, Informationswissenschaft, allgemeine Werke
Philosophie und Psychologie
Religion
Sozialwissenschaften
Naturwissenschaften und Mathematik
Sprache
Künste und Unterhaltung
Geschichte und Geografie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften
Literatur
Alle
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Impact of the reaction pathway on the final product in on-surface synthesis
Kutz, Antje
;
Rahman, Taibur
;
Haapasilta, Ville
;
Venturini, Chiara
;
Bechstein, Ralf
;
Gordon, Andre
;
Foster, Adam S
;
Kühnle, Angelika
In: Physical chemistry chemical physics : PCCP, Jg. 22 H. 11, S. 6109-6114
2020
Increasing the Templating Effect on a Bulk Insulator Surface: From a Kinetically Trapped to a Thermodynamically More Stable Structure
Paris, Chiara
;
Floris, Andrea
;
Aeschlimann, Simon
;
Kittelmann, Markus
;
Kling, Felix
;
Bechstein, Ralf
;
Kühnle, Angelika
;
Kantorovich, Lev
In: Journal of Physical Chemistry C, Jg. 120 H. 31, S. 17546-17554
2016
Imaging perylene derivatives on rutile TiO2(110) by noncontact atomic force microscopy
Schütte, Jens
;
Bechstein, Ralf
;
Rahe, Philipp
;
Rohlfing, Michael
;
Kühnle, Angelika
;
Langhals, Heinz
In: Physical Review B, Jg. 79 H. 4, S. 045428 ff.
2009