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vom 13.7.2021
Frequency-modulated atomic force microscopy operation by imaging at the frequency shift minimum: The dip-df mode
Rode, Sebastian
;
Schreiber, Martin
;
Kühnle, Angelika
;
Rahe, Philipp
In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 H. 4, S. 43707 ff.
2014