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Bibliographic Metadata
Title
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Author
Kamischke, Ralf
Thesis advisor
Benninghoven, Alfred
;
Benninghoven, A.
;
Benninghoven, A.
;
Benninghoven, A.
;
Benninghoven, A.
;
Benninghoven, A.
Published
2001
Language
German
Document type
Dissertation (PhD)
Keywords (DE)
Nanostruktur
/
Sekundärionen-Massenspektrometrie
/
Flugzeitmassenspektrometrie
/
Oberfläche
/
Laserionisation
URN
urn:nbn:de:hbz:6-85659551309
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Reference
Nachweis in der ULB Münster
IIIF
IIIF Manifest
Files
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
[
Pdf
1.92 mb
]
RIS
Classification
Klassifikation (DDC)
→
Naturwissenschaften und Mathematik
→
Physik
→
Physik
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