Rietmann, Thomas: Einfluss der chemischen Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie. 2011
Inhalt
- I Einleitung
- II Grundlagen
- Physikalische Grundlagen
- Zerstäubung
- Ionisierung
- Quantitative Beschreibung der Sekundärionenemission
- Kinetisch ioneninduzierte Elektronenemission
- Experimentelle Grundlagen
- Grundlagen der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
- Experimenteller Aufbau
- Detektion von Sekundärionen
- Normierung
- Probensysteme und Präparation
- III Ergebnisse und Diskussion
- Identifizierung und Klassifizierung der charakteristischen Sekundärionensignale
- Nachweiseffizienzen
- Grenzgeschwindigkeit
- Elektronenemissionskoeffizient
- IV Zusammenfassung und Ausblick
- V Summary in English
- VI Anhang