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Literatur
High resolution Rutherford backscattering spectroscopy studies on Mo/Si multilayers
Heidemann, B.
;
Tappe, T.
;
Schmiedeskamp, B.
;
Heinzmann, Ulrich
In: Thin Solid Films, Jg. 228 H. 1-2, S. 60-63
Mo 0,5 Si 0,5/Si multilayer soft x-ray mirrors, high thermal stability, and normal incidence reflectivity
Stock, H. J.
;
Kleineberg, U.
;
Kloidt, A.
;
Schmiedeskamp, B.
;
Heinzmann, Ulrich
;
Krumrey, M.
;
Müller, P.
;
Scholze, F.
In: Applied Physics Letters, Jg. 63 H. 16, S. 2207-2209
Smoothing of interfaces in ultrathin Mo/Si multilayers by ion bombardment
Kloidt, A.
;
Stock, H. J.
;
Kleineberg, U.
;
Döhring, T.
;
Pröpper, M.
;
Schmiedeskamp, B.
;
Heinzmann, Ulrich
In: Thin Solid Films, Jg. 228 H. 1-2, S. 154-157
Spin polarization in the photoemission from the 5d-core levels of a thallium film
Schmiedeskamp, B.
;
Vogt, B.
;
Heinzmann, Ulrich
In: Zeitschrift für Physik B: Condensed Matter, Jg. 90 H. 2, S. 197-200