Gottschalk, Martin: Anwendungen der Ionen- & Elektronenmikroskopie im Grenzgebiet zwischen Nanostrukturphysik und Biologie. 2017
Inhalt
- 1 Einleitung
- 2 Methoden & physikalische Grundlagen
- 2.1 Dual-Beam-System
- 2.1.1 Rasterelektronenmikroskop
- 2.1.2 Fokussierter Ionenstrahl
- 2.1.3 EDX-Möglichkeiten an der FIB
- 2.1.4 Gas-Deposition
- 2.1.5 Lamellen-Präparation an der FIB
- 2.1.6 Abbildung und Strukturierung schlecht oder nicht leitender Materialien
- 2.2 E-Beam-Lithografie
- 2.3 Sputtern & Ionenätzen
- 3 Kontaktierung & Charakterisierung einzelner Nanopartikel
- 3.1 Motivation
- 3.2 Kontaktierung mittels Gasdeposition in der FIB
- 3.3 Würfelförmige Magnetit-Partikel
- 3.4 Sternförmige Magnetit-Partikel
- 3.5 Kryo-Erweiterung und Anwendungsmöglichkeiten
- 3.6 Fazit
- 3.7 Ausblick
- 4 Herstellung von Heusler-Partikeln via Elektronenstrahllithografie
- 4.1 Die Heusler-Legierungen und ihre Eigenschaften
- 4.2 Herstellung mittels Elektronenstrahllithografie
- 4.2.1 Das Konzept der Herstellung
- 4.2.2 Belichtung der Punktstruktur
- 4.2.3 SIMS-Ätzen der Säulen-Struktur
- 4.2.4 Freistellung der Partikel
- 4.3 Quantitative Abschätzung der Ausbeute
- 4.4 Nachweis der Heusler-Partikel
- 4.5 Fazit
- 4.6 Ausblick
- 5 Untersuchung physikalischer Reizgebung zur Stammzelldifferenzierung
- 5.1 Biologische Grundlagen zu Stammzellen und ihrer Differenzierung
- 5.2 Einfluss der Porengröße auf die Differenzierung
- 5.3 Biologischer Nachweis einer vorliegenden Osteogenese
- 5.4 Herstellung einer geeigneten Topologie mittels Elektronenstrahllithographie
- 5.5 Fazit
- 5.6 Ausblick
- 6 Zusammenfassung & Ausblick
- Literaturverzeichnis
- Abbildungsverzeichnis
- Tabellenverzeichnis
- A Publikationen und Tagungen
- B Strom-Spannungsmessungen von Nanopartikeln (Kap. 3)
- C Danksagung