Bechstein, Ralf; González, Cesar; Schütte, Jens; Jelínek, Pavel; Pérez, Ruben; Kühnle, Angelika: 'All-inclusive' imaging of the rutile TiO2(110) surface using NC-AFM. In: Nanotechnology. Jg.20 H. 50. 2009, S. 505703 ff.