de
en
Schliessen
Detailsuche
Bibliotheken
Projekt
Impressum
Datenschutz
zum Inhalt
Detailsuche
Schnellsuche:
OK
Schließen
Zeiträume
23
Einträge für
1901-2000
Zeiträume
13
Einträge für
1981-1990
10
Einträge für
1991-2000
Autoren / Beteiligte
23
Einträge für
Reiss, Günter
15
Einträge für
Hoffmann, Horst
14
Einträge für
Vancea, Johann
7
Einträge für
Brückl, Hubert
3
Einträge für
Levine, L. E.
3
Einträge für
Smith, D. A.
2
Einträge für
Hastreiter, E.
2
Einträge für
Lecheler, R.
2
Einträge für
Schneider, F.
1
Einträge für
Bauer, K.
1
Einträge für
Besold, J.
1
Einträge für
Butz, D.
1
Einträge für
Eckl, Th.
1
Einträge für
Hornauer, Hans
1
Einträge für
Jacob, M.
1
Einträge für
Kapfberger, Klaus
1
Einträge für
Meier, G.
1
Einträge für
Pukowietz, S.
1
Einträge für
Wittmann, H.
1
Einträge für
Zweck, Josef
Zeige 10 weitere
Zeige erste 10
23
Titel
in
Klassifikation (DDC)
→
Naturwissenschaften und Mathematik
→
Physik
→
Physik
Klassifikation
Schliessen
Filter
2
zu den Filteroptionen
Titel
Personen
Ort
Verlag
Jahr
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Alle Titel
Klassifikation (DDC)
Naturwissenschaften und Mathematik
Physik
Physik
Thickness-dependent effects in the work function of polycrystalline Cu-Films
Vancea, Johann
;
Reiss, Günter
;
Butz, D.
;
Hoffmann, Horst
In: Europhysics letters, Jg. 9 H. 4, S. 379-384
1989
Thickness-dependent thin-film resistivity: application of quantitative scanning-tunneling-microscopy imaging
Reiss, Günter
;
Hastreiter, E.
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
In: Physical review B, Jg. 43 H. 6, S. 5176-5179
1990
Ultrahigh vacuum scanning-tunneling microscope for in situ studies of annealing and electromigration behavior of thin films
Reiss, Günter
;
Levine, L. E.
;
Smith, D. A.
In: Journal of Vacuum Science and Technology, B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 11 H. 1, S. 108-111
1993
Erste Seite
Vorige Seite
Gehe zu Seiten
1 - 20
21 - 23
Nächste Seite
Letzte Seite