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Electronic transport in metallic films: a tool for scanning tunneling microscopy investigations
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Superlattices and Microstructures, Jg. 11 H. 2, S. 171-174
1992
Electronic transport properties and thickness dependence of the giant magnetoresistance in Co/Cu multilayers
Eckl, Th.
;
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Hoffmann, Horst
In: Journal of applied physics, Jg. 75 H. 1, S. 362-367
1994
Electronic transport properties of giant-magnetoresistance Fe/Cr multilayers
Jacob, M.
;
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Hoffmann, Horst
In: Physical Review, B, Jg. 46 H. 17, S. 11208-11211
1992
Growth and structure of polycrystalline Cr/Au multilayered thin films
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Reiss, Günter
;
Hoffmann, Horst
In: Thin solid films, Jg. 250 H. 1-2, S. 56-60
1994
In situ scanning-tunneling-microscopy studies of current driven mass transport in Ag
Levine, L. E.
;
Reiss, Günter
;
Smith, D. A.
In: Journal of applied physics, Jg. 74 H. 9, S. 5476-5482
1993
In situ scanning-tunneling-microscopy studies of early-stage electromigration in Ag
Levine, L. E.
;
Reiss, Günter
;
Smith, D. A.
In: Physical Review, B, Jg. 48 H. 2, S. 858-863
1993
The influence of surface roughness on electronic transport in thin films
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Surface science, Jg. 269-270, S. 772-776
1992
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Hastreiter, E.
In: Journal of applied physics, Jg. 70 H. 1, S. 523-525
1991
Scanning tunneling potentiometry (STP) studies of gold islands on a thin carbon film
Besold, J.
;
Reiss, Günter
;
Hoffmann, Horst
In: Applied surface science, Jg. 65-66, S. 23-27
1993
Ultrahigh vacuum scanning-tunneling microscope for in situ studies of annealing and electromigration behavior of thin films
Reiss, Günter
;
Levine, L. E.
;
Smith, D. A.
In: Journal of Vacuum Science and Technology, B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 11 H. 1, S. 108-111
1993