de
en
Schliessen
Detailsuche
Bibliotheken
Projekt
Impressum
Datenschutz
zum Inhalt
Detailsuche
Schnellsuche:
OK
Schließen
Zeiträume
7
Einträge für
1901-2000
Zeiträume
1
Einträge für
1981-1990
6
Einträge für
1991-2000
Autoren / Beteiligte
7
Einträge für
Brückl, Hubert
7
Einträge für
Reiss, Günter
3
Einträge für
Hoffmann, Horst
3
Einträge für
Vancea, Johann
2
Einträge für
Hastreiter, E.
2
Einträge für
Lecheler, R.
1
Einträge für
Eckl, Th.
1
Einträge für
Jacob, M.
7
Titel
in
Klassifikation (DDC)
→
Naturwissenschaften und Mathematik
Klassifikation
Schliessen
Filter
2
zu den Filteroptionen
Titel
Personen
Ort
Verlag
Jahr
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Alle Titel
Klassifikation (DDC)
Naturwissenschaften und Mathematik
Naturwissenschaften
Mathematik
Astronomie
Physik
Chemie
Geowissenschaften, Geologie
Fossilien, Paläontologie
Biowissenschaften; Biologie
Pflanzen (Botanik)
Tiere (Zoologie)
Electronic transport in metallic films: a tool for scanning tunneling microscopy investigations
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Superlattices and Microstructures, Jg. 11 H. 2, S. 171-174
1992
Electronic transport properties and thickness dependence of the giant magnetoresistance in Co/Cu multilayers
Eckl, Th.
;
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Hoffmann, Horst
In: Journal of applied physics, Jg. 75 H. 1, S. 362-367
1994
Electronic transport properties of giant-magnetoresistance Fe/Cr multilayers
Jacob, M.
;
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Hoffmann, Horst
In: Physical Review, B, Jg. 46 H. 17, S. 11208-11211
1992
Growth and structure of polycrystalline Cr/Au multilayered thin films
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Reiss, Günter
;
Hoffmann, Horst
In: Thin solid films, Jg. 250 H. 1-2, S. 56-60
1994
The influence of surface roughness on electronic transport in thin films
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
In: Surface science, Jg. 269-270, S. 772-776
1992
Scanning tunneling microscopy on rough surfaces: quantitative image analysis
Reiss, Günter
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
;
Lecheler, R.
;
Hastreiter, E.
In: Journal of applied physics, Jg. 70 H. 1, S. 523-525
1991
Thickness-dependent thin-film resistivity: application of quantitative scanning-tunneling-microscopy imaging
Reiss, Günter
;
Hastreiter, E.
;
Brückl, Hubert
;
Vancea, Johann
In: Physical review B, Jg. 43 H. 6, S. 5176-5179
1990